创新的 ICP-OES 系统, 分析样品更快速、更省气

　　2014年7月1日，北京——安捷伦科技公司(纽约证交所： A)今日推出了 Agilent 5100 电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES)，巩固了自己作为原子光谱仪领域创新者的地位。即使面对最复杂的样品，全新的系统都能更快速、更省气地分析样品，且不会影响其分析性能。这款全新的仪器是实验室进行食品、环境、药物检测以及采矿和工业应用的理想选择。

　　“新系统避免了与传统的双向观测分析相关的速度和稳定性方面常见的影响，这使得已经是 ICP-OES 领域性能领导者的安捷伦又为行业标准树立了新的标杆，”安捷伦光谱产品副总裁 Philip Binns 说道。

　　传统的双向观测系统需要对每个样品进行多达 4 次的连续测量，而 Agilent 5100 仅需 1 次，这得益于它创新的智能光谱组合技术和垂直火炬同步双向观测技术。这些创新可让客户以更快的速度、更高的准确度和易用性进行分析，大大节省了时间和运行成本。

　　“安捷伦的目标始终都是提供最快速、最高效的原子光谱系统，以应对最复杂的样品，” Binns 说道， “今年，随着 4200 MP-AES、7900 ICP-MS 以及现在的 5100 ICP-OES 的面世，我们继续在元素分析的创新方面引领着行业发展，这也印证了我们致力于根据客户的应用需求提供最佳工具的一贯承诺。”

　　Binns 强调，Agilent 5100 ICP-OES 分析每个样品的分析速度比市场上与之竞争的ICP-OES系统快 55%，所需气体仅有其50%，“市场上没有其它系统可以与新的 5100 之性能或低运行成本相匹敌的。”他说。

　　有了这一全新的系统，客户就能使用直观的 ICP Expert 软件和智能光谱组合技术来实现方法开发。一次即可测量所有波长，具有极高的精密度，且无任何延迟。系统的垂直炬管可以应对最具挑战性的样品(从高基质样品到挥发性有机溶剂)，并且分析结果具有高度可靠性。

　　Agilent 5100 有三种配置，均配备了一个耐用的垂直炬管：

　　同步垂直双向观测(SVDV)能够以最少的气体用量提供最快的分析速度

　　垂直双向观测(VDV)可提供高通量，如需更高通量，可现场升级至 SVDV 配置

　　径向观测(RV)是需要快速、高性能径向 ICP-OES 的实验室的理想选择)